XRD数据分析：手动拟合。
工具栏介绍。
首先要扣除背景，通常需要同时选择扣除Ka2，然后进行物相检索，再做一次图谱平滑，以使谱线变得光滑，方便准确地拟合数据。点击“常用”工具栏中的“拟合”按钮，JADE软件将开始进行“全谱拟合”。全谱拟合是一个复杂的数学计算过程，需要一定时间，其中的红线表示拟合的好坏。如果红线出现大的波动，说明拟合不好，需要进一步拟合。
可以重新点击“拟合”按钮重新进行拟合。在菜单栏下方显示整个拟合过程。可以看到2的值，这个值越小表示拟合越好。在拟合过程中，如果峰数过多或过大，可能会出现提示窗口，如果出现提示窗口，可以缩小角度范围，进行逐步拟合或人工拟合。这是图谱拟合的功能。
在图谱拟合时需要注意以下几点，建议收藏。下图为样品的XRD图谱，以完全退火态硅粉为标样，解释半高宽曲线的制作方法。
第一步：取完整、无应力、粗晶硅粉，在300度退火24小时。
第二步：测量标准样品的颜色曲线，并导入JADE软件。
第三步：扣除背景和Ka2的辐射，进行寻峰-检索物相，并进行全谱拟合，此时会显示半高宽曲线。点击菜单栏中的“分析”按钮，可以显示半高宽的补正曲线。
第五步：保存半高宽曲线。选择“文件”菜单中的“保存”选项，保存半高宽曲线。
最后，需要定制半高宽曲线，选择“编辑”菜单，其中最重要的按钮是“preferences”。如果仪器发生过大的更改或改变，需要重新测量半高宽曲线。这就是如何测量半高宽曲线。
下期将为大家实际操作JADE软件的图谱拟合。
