使用植物荧光成像仪对荧光数据的采集
依次取出待测的各组番茄植株，在黑暗环境下暗适应30分钟。在黑暗环境下，依次利用双通道PAM-100荧光仪的快速连续检测模式（图4.1A），测量5组受胁迫植株及对照植株的叶片，得到荧光值和对应的时间的曲线（OJIP曲线），并将数据导出至Excel中。
使用植物荧光成像仪（浙江大学现代光学仪器国家重点实验室）测定每组植株叶片的光系统II实际光化学效率，即Y(II)值（图4.1B），设置测量光强度为5，光化光强度为12(230μmolm-2s-1)，饱和光强度为5(1530μmolm-2s-1)，测量光频率为8Hz。
数据测定完成后，保存到Excel表格中，利用origin8.5软件处理。
双通道PAM-100荧光仪的快速连续检测数据处理方法：首先，使用测得的荧光值和对应的时间，按自定义公式f=(F-F0.1)/(Fm-F0.1)计算特定时间段内变量f的数值，其中F表示0.1～2.98毫秒时间段内任意时间点的荧光值。
F0.1表示0.1毫秒时间点对应的荧光值；Fm表示一次完整的测量过程（0～309.97毫秒）中最大的荧光值。然后，以时间为横坐标，f值为纵坐标，利用origin软件做出散点图，拟合曲线。最后，求得曲线初始斜率k0（0.1毫秒对应的斜率）。
具体操作如下：复制0.1～2.98毫秒时间段内的98个f值到origin中，以时间为横坐标，f值为纵坐标，依次点击“Plot”“Symbol”“Scatter”，做出散点图（图4.2A）。
选中散点图后，依次点击“Analysis”“Fitting”“ExponentialFit”“Openthedialog”“Function”“ExpDecay3”“Fit”，完成曲线拟合（图4.2B）。
选择新拟合的曲线（图4.2C），选中其对应的横坐标与纵坐标的数据，即“FitExpCurvel”表格中的前两列，依次点击“Analysis”“Mathematics”“Differentiate”，记录横坐标0.1处的数值k0，即为曲线的初始斜率（图4.2D）。
植物荧光成像仪测定的Y(II)值的处理方法：
使用植物荧光成像分析软件（版本2.118），选择成像模式为Y(II)，设置观测区域大小为宽40，高50，读取并记录每张叶片的Y(II)值。
以k0为横坐标，对应的Y(II)值为纵坐标，用origin软件做出散点图（图4.3）。观察散点图发现，不同胁迫处理对应的[k0,Y(II)]在坐标系中呈现聚集式分布。
这说明不同胁迫处理下，叶绿素荧光特征值[k0,Y(II)]的变化是不同的。
不同胁迫处理对应的叶绿素荧光特征值的聚类分析：将4.2.1所得散点图中的数组[k0,Y(II)]进行编号，利用SPSS统计软件进行系统聚类分析，聚类方法选用“质心聚类法”，度量标准选用“Euclidean距离”，得出树状图（图4.4）。
其中，代表对照，代表干旱胁迫，代表病害胁迫；代表高温胁迫，代表弱光胁迫，代表缺素胁迫。根据聚类分析的结果，在散点图上圈出同类点集，并确定这些点集的值域。
不难发现，不同类型植株所对应散点基本被聚为一类。
不同胁迫处理对叶绿素荧光特征值的影响：根据聚类分析的结果，我们将4.2.1中所得叶绿素荧光特征值的散点图划分为对照，干旱，缺素，其他（病害、高温和弱光）4个部分，如图4.5。
（1）首先我们观察到5种受胁迫番茄植株的Y(II)全部低于0.4，而对照植株Y(II)全部高于0.4。
（2）继续观察图4.5发现，5种胁迫处理的叶绿素荧光特征值被划归为3个区域，且3个区域的k0值各不相同。
具体地，干旱胁迫k0值均小于2.5，病害、高温和弱光胁迫的k0值处于3.0~5.0之间，而缺素胁迫k0值均大于5.0。
利用叶绿素荧光成像仪和双通道PAM-100荧光仪相结合的方法，快速测量不同胁迫处理下番茄叶片的叶绿素荧光特征值，按特定的规则处理数据，得到一个曲线初始斜率的数值k0，与直接测得的实际光化学效率Y(II)共同组成数组[k0,Y(II)]。
我们发现，不同胁迫诱导的[k0,Y(II)]在坐标系中呈现出聚类分布。
就Y(II)来说，胁迫处理的番茄植株，其Y(II)的值均显著低于对照组，与Zhao等人（2000）的研究结果一致。反过来，根据Y(II)的值我们可以快速判断出植株是否受到胁迫。
就斜率k0来说，干旱胁迫诱导的k0值低于对照，可能是因为干旱导致光系统II接收的光能以热能的形式散失，用于光化学反应的能量大幅下降，从而导致电子产额降低。
